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現在很多產(chǎn)品都需要高精度測量，人為又做不到，需要借助現代化儀器來(lái)測量，市面上現在很多各種各樣的測量?jì)x器，目前主要有二次元，三次元等一鍵式測量?jì)x，他們的區別在哪里呢
？現在我們來(lái)分析一下，以后就好更有針對性的使用了
現在市場(chǎng)的影像尺寸測量?jì)x，有三次元測量?jì)x、二次元測量?jì)x和測量投影儀。而二次元測量?jì)x跟測量投影儀難以區別，都是光學(xué)檢測儀器，在結構和原 理上二次元測量?jì)x通常是連接PC電腦上同時(shí)連同軟件一起進(jìn)行操作，精度在0.002MM以?xún)�，測量投影儀內部是自帶微型電腦的，因此不需要再連接電腦，但在精度上卻沒(méi)有二次元測量?jì)x那么精準，影像測量?jì)x精度一般只能達0.01MM以?xún)�。三次元測量?jì)x是在二次元測量的基礎上加一個(gè)超聲測量或紅外測量探頭，用于測量被測物體的厚度以及盲孔深度等，這些往往二次元測量?jì)x無(wú)法測量，但三次元測量?jì)x也有一定的缺陷：
Ø 測高探頭采用接觸法測量，無(wú)法測量部分表面不 能接觸的物體；
Ø 探頭工作時(shí)，需頻繁移動(dòng)座標，檢測速度慢；
Ø 因探頭有一定大小，因些無(wú)法測量過(guò)小內徑的盲孔；
Ø 探頭因采用接觸法測量，而接觸面有一 定寬度，當檢測凹凸不平表面時(shí)，測量值會(huì )有較大誤差，同時(shí)一般測量范圍都較小。
     光纖同軸位移傳感器以非接觸方式測量高度和厚度，解決了過(guò)去三角測距方式中無(wú)法克服的誤差問(wèn)題，因此開(kāi)發(fā)出可以同軸共焦非接觸式一鍵測量的3D輪廓測量設備成為亟待解決的熱點(diǎn)問(wèn)題。
      
   針對現有技術(shù)的上述不足，提供五次元測量設備及其測量計算方法，具有可以非接觸檢測、更高分辨率、檢測速率更快、一鍵式測量、更高精度等優(yōu)點(diǎn)。五次元測量?jì)x通過(guò)采用大理石做為檢測平臺和基座，可獲得更高的穩定性；內置軟件的自動(dòng)分析，可一鍵式測量，只需按一個(gè)啟動(dòng)鍵，既可完成尺寸測量，使用方便；采有非接觸式光譜共焦測量具有快速、高精度、可測微小孔、非接觸等優(yōu)點(diǎn)，可測量Z軸高度，解決測高探頭接觸對部分產(chǎn)品造成損傷的問(wèn)題；大市場(chǎng)光學(xué)系統可一次拍取整個(gè)工件圖像，可使檢測精度更高，速度更快。并且可以概據客戶(hù)需要，進(jìn)行自動(dòng)化擴展，配合機械手自動(dòng)上下料，完全可做到無(wú)人化，并可進(jìn)行 SPC 過(guò)程統計。為客戶(hù)提供高精度檢測的同時(shí)，概據 SPC 統計數據，實(shí)時(shí)對生產(chǎn)數據調整， 提高產(chǎn)品質(zhì)量，節約成本。